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中級會員·3年您現在的位置： 深圳九州工業品有限公司>>photonic-lattice>> ME-210/ME-210-T日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀
具體成交價以合同協議為準
產品簡介
這是一款高速映射橢圓儀，可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面（最大?300 mm 是可選的），可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它
支持各種膜厚分布測量。
產品介紹
日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀ME-210/ME-210-T
日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀ME-210/ME-210-T
這是一款高速映射橢圓儀，可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面（最大?300 mm 是可選的），可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它
支持各種膜厚分布測量。
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| 光源 |
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| 測量點 |
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| 入射角 |
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| 尺寸 （寬 x 深 x 高） |
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| 兼容透明基材 |
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| 舞臺尺寸 |
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| 尺寸 （寬 x 深 x 高） |
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| 重量 |
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| 界面 |
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| 界面 |
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| 電源 |
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| 軟件 |
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| 配件 |
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