深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 德國(guó)Sentech集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統(tǒng)研發(fā)三到六個(gè)端口傳送腔室可用于集成ICP等離子刻蝕機(jī)、RIE刻蝕機(jī)、原子層沉積系統(tǒng)、PECVD和ICPECVD沉...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 德國(guó)DienerPECVD等離子體化學(xué)氣相沉積設(shè)備該P(yáng)ECVD系統(tǒng)可以沉積高質(zhì)量SiO2薄膜、Si3N4薄膜、類(lèi)金剛石薄膜、硬質(zhì)薄膜、光學(xué)薄膜等
產(chǎn)品型號(hào)：TETRA240所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 超低溫磁場(chǎng)探針臺(tái)半自動(dòng)真空低溫探針臺(tái)使晶圓和器件在低溫下9k(singleCCR系統(tǒng))、4.5K(dualCCR系統(tǒng))甚至低于4K(tripleCCR系統(tǒng))的情...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 適用于多種晶圓量測(cè)應(yīng)用?模塊量測(cè)-DC-IV
產(chǎn)品型號(hào)：TS3500 Probe System所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： TS3000ProbeSystem半自動(dòng)300mm探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)?模塊量測(cè)-DC-IV/DC-CV/Pulsed-IV?高溫度范圍-60°C至300°C?大的靈...
產(chǎn)品型號(hào)：TS3000 Probe System所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HEMS測(cè)量包括：?遷移率測(cè)試?DCHEMS:10^6cm2/Vsto10cm2/Vs?ACHEMS:10cm2/Vsto0
產(chǎn)品型號(hào)：HEMS所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)VSM振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)VSM?振動(dòng)頭振動(dòng)頻率(校準(zhǔn)):1-100Hz?VSM振蕩幅度范圍：0.1mm-5mm?大樣品直徑：6mm?適用于液體、粉末、...
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詳細(xì)摘要： 霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)EzHEMS?電阻率測(cè)量范圍:10-4-109?·cm(取決于樣本)?遷移率:1-107cm2/V·S(取決于樣本)?載流子濃度:107-102...
產(chǎn)品型號(hào)：EzHEMS所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： TS2000-HPProbeSystem半自動(dòng)化探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)MPI的TS2000-HP半自動(dòng)化探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測(cè)量，*的Shi...
產(chǎn)品型號(hào)：TS2000-HP Probe System所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 適用于多種晶圓量測(cè)應(yīng)用，?如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓可靠性(WLR)和失效分析(FA)MPIShielDEnvironment™屏蔽環(huán)...
產(chǎn)品型號(hào)：TS200-SE Probe System所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 布魯克Bruker三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學(xué)輪廓儀是功能面的自動(dòng)化臺(tái)式系統(tǒng)，可快速完成非接觸式三維表面計(jì)量
產(chǎn)品型號(hào)：ContourX-500所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： ThermoScientificIntegrion高壓離子色譜耐壓zui高的離子色譜泵
產(chǎn)品型號(hào)：Integrion所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 布魯克Bruker三維光學(xué)輪廓儀ContourGT-XContourGT-X三維光學(xué)輪廓儀提供高性能非接觸表面測(cè)量，適用于實(shí)驗(yàn)室研究和生產(chǎn)過(guò)程控制
產(chǎn)品型號(hào)：ContourGT-X所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： WB-200半自動(dòng)引線(xiàn)鍵合機(jī)可進(jìn)行球焊、鍥焊、金線(xiàn)鍵合、跳焊(Pump)技術(shù)規(guī)格特點(diǎn)：-鍥焊、球焊、跳焊;-半自動(dòng)和手動(dòng)鍵合模式;-焊線(xiàn)直徑：17μm-50μm...
產(chǎn)品型號(hào)：WB-200所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 島津長(zhǎng)久以來(lái)一直致力于提高HPLC的分析性能
產(chǎn)品型號(hào)：Nexera LC-40所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 布魯克Bruker光學(xué)輪廓儀ContourX-200ContourX-200光學(xué)輪廓儀提供了高級(jí)表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類(lèi)產(chǎn)品中、最準(zhǔn)...
產(chǎn)品型號(hào)：ContourX-200所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： TheHysitronPI89掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào)：PI 89所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 布魯克Bruker三維光學(xué)輪廓儀ContourSP大面板計(jì)量系統(tǒng)融合了十余年封裝光學(xué)表征專(zhuān)業(yè)技術(shù)，使高密度互連PCB（HDI-PCB）基板的測(cè)量效率比上一代白光...
產(chǎn)品型號(hào)：ContourSP所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 美國(guó)Agilent7890B氣相色譜儀產(chǎn)品特性：●載氣選件：氦氣節(jié)省模塊、氫氣傳感器和替代載氣解決方案可以顯著降低氦氣的使用量，提高實(shí)驗(yàn)室分析的靈活性
產(chǎn)品型號(hào)：7890B所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 賽默飛三重四極桿液質(zhì)聯(lián)用儀TSQQuantumUltraTSQQuantumUltra同時(shí)進(jìn)行定量分析和定性確證，增強(qiáng)定量數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)二級(jí)掃描(QED-MS/MS)...
產(chǎn)品型號(hào)：TSQ Quantum Ultra所在地：更新時(shí)間：2023-06-16 在線(xiàn)留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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