陳霞
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圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 光學測量
seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學
| 產品種類 | 臺式 | 數顯功能 | 有 |
|---|---|---|---|
| 產地 | 進口 | 溫控功能 | 無 |
YP-250I半導體芯片檢測用表面檢查燈
工業時代，產品需求越增長，對產品的質量外觀，要求也更高，就需要更高的技術，來達到要求。光屋株式會社，致力于檢測工業生產中出現的灰塵，劃痕問題，為產品生產環境和質量，保駕護航。所有的工業產品生產，車間污染，人工觸碰，都極易產生灰塵和劃痕，都有需要用到光屋的產品表面檢查燈。
用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
| 特點】 1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia). |
| 2. 使用鹵素燈作為光源，色溫高達3400°K，照光和顏色均一保證了穩定強光的照射。 |
| 3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規鋁鏡相比較少1/2 到 1/3 |
| 4. 光束直徑由鏡片調整，30-50mm 之間調整 |
| 5. 底部開光，調整照明勘察器高度，操作簡便，可控制光量。 |
| 高亮度鹵素射鏡 | ||
| YP-150I | YP-250I | |
| 照射范圍 | 30mmφ | 60mmφ |
| 照度 | ≥ 400,000 lｘ | ← |
| 照射距離 | 140mm | 220mm |
| 光源 | 鹵素燈(使用冷鏡) | ← |
| 燈型 | JCR15V150W | ELC24V250W |
| 壽命 | 50小時 | 35 小時 |
| 色溫 | 3,400K° | ← |
| 色調 | 白 | ← |
| 環境溫度 | 0～40℃ | ← |
| 冷卻方式 | 強制排氣 | ← |
| 連接 | 12φ | 20φ |
| 尺寸 | 100(W)×245(H)×116（D）mm | 120(W)×388(H)×130(D)mm |
| 重量 | 1.7 ㎏(17N) | 2.7 ㎏(27N) |
| 輸入電壓 | AC100V 50/60Hz | AC100V 50/60Hz |
| 功率 | 200W | 350W |
| 變化范圍 | AC5～12V | AC10～22V |
| 環境溫度 | 0～40℃ | ← |
| 冷卻方式 | 自然 | 強制排氣 |
| 尺寸 | 140(W)×94(H)×185(D)mm | 135(W)×72(H)×260(D)mm |
| 重量 | 2.4 ㎏ | 2 ㎏ |
| 其他 | 輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq (外加一插座) 輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq (外加一金屬連接器) 腳踏開關線:3m (底部金屬連接器) | 輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq (外加一插座) 輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq (外加一金屬連接器)<span none"=""> |
日本山田光學YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
日本山田光學YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
YP-250I半導體芯片檢測用表面檢查燈
是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中z費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
概要
1. 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
YP-150I???照度範囲 φ30
YP-250I???照度範囲 φ60
（YP-250I的通風機可選択螺旋式風扇或管道通風機形）
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