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半導體激光器光譜和功率測試系統

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更新時間：2024-09-05 07:57:30瀏覽次數：201次

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濟南創譜儀器有限公司

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產品簡介

產品簡介：半導體激光器所發出的激光具有一定的發散角，直接照射探測器，不能獲得準確的功率值。CPLD150激光光譜功率測試系統，使半導體激光器發出的激光在積分球內形成均勻的光強分布，由光功率計和光纖光譜儀分別測量波長和功率，通過專業的軟件輸出測量結果。測量波長范圍200-1100......

詳細介紹

半導體激光器所發出的激光具有一定的發散角，直接照射探測器，不能獲得準確的功率值。CPLD150激光光譜功率測試系統，使半導體激光器發出的激光在積分球內形成均勻的光強分布，由光功率計和光纖光譜儀分別測量波長和功率，通過專業的軟件輸出測量結果。測量波長范圍200-1100nm，分辨率0.1-1nm，功率范圍：100nW-10W。

產品特點：

● 功率可達10W

● 積分球與光功率探頭一起校準

● 波長可覆蓋200-1100nm

● 專用軟件可以一鍵獲取光譜及光功率數據

應用：

半導體激光器光譜和功率測量

產品組成：

1.積分球

創譜儀器提供的CPISA150積分球為全鋁殼體，內球徑為150mm。激光器處于積分球的頂部，與探測器和SAM905適配器成90°分布。光纖光譜儀通過光纖連接積分球SMA905適配器。

● 激光器、探測器和SMA905適配器的位置可根據用戶的具體需求進行調整。

● 激光器適配器可根據用戶的具體尺寸要求進行設計。