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濟南創(chuàng)譜儀器有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地濟南市
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更新時間：2024-09-05 07:56:27瀏覽次數(shù)：126次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線產(chǎn)品簡介 ： 1.標準探針臺 2.光學(xué)隔振平臺CPPT-A66，臺面600*600mm含支架 3.筆記本電腦/臺式電腦（標準的VGA接口和USB接口） 4.美國吉時利2400數(shù)字源表含軟件
產(chǎn)品信息：
直流I-V測試是表征微電子器件、工藝以及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析，或者I-V曲線來決定器件的基本參數(shù)。
創(chuàng)譜儀器CPIV-SD半導(dǎo)體器件IV特性測試系統(tǒng)采用高精度，高漏電精度探針臺、數(shù)字源表以及上位機軟件組成；
產(chǎn)品特點：
◆CPZH系列探針臺：4寸/6寸樣品盤，漏電精度100fA，真空吸附，3微米探針移動精度，10微米針尖，2000萬CCD成像，12寸顯示器
◆吉士利數(shù)字源表：
（雙電極）單通道選用2450，電壓量程：20mV-200V;電流量程：10nA-1A
（三端器件等）雙通道選用2602B，電壓量程：100nV-40V;電流量程：0.1fA-10A
◆IV測試軟件：
可以實現(xiàn)：單階恒流輸出、單階恒壓輸出、電阻測量、多階恒流輸出、多階恒壓輸出、電流掃描、電壓掃描、電流電壓波形輸出、溫度測量-PT100鉑電阻
在測試的過程中，測量數(shù)據(jù)以圖形和表格的方式實時顯示，在切換到下一步驟后，顯示數(shù)據(jù)界面重新進行初始化，同時系統(tǒng)信息窗口提示當前正在執(zhí)行的步驟。
產(chǎn)品應(yīng)用：
◆二極管特性的測量與分析
◆雙極型晶體管BJT特性的測量與分析
◆MOSFET場效應(yīng)晶體管特性的測量與分析
◆MOS 器件的參數(shù)提取
實測曲線：
實測雙端器件IV測試曲線
實測三端器件IV測試曲線
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