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產x熒光膜厚測量儀

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更新時間：2024-07-17 08:25:12瀏覽次數：185次

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江蘇天瑞儀器股份有限公司

經營模式：生產廠家

商鋪產品：968條

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產品簡介

x熒光膜厚測量儀采用上照式硅漂移SDD探測器配置，既滿足各種金屬膜厚測量，也適用各種形狀規則的樣品

詳細介紹

x熒光膜厚測量儀采用上照式硅漂移SDD探測器配置，既滿足各種金屬膜厚測量，也適用各種形狀規則的樣品。江蘇天瑞股份有限公司專業生產x熒光無損膜厚測量儀，解決電鍍厚度測試。黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。天瑞儀器是金屬鍍層測厚儀三之，另外兩個品牌分部是費希爾和牛津。天瑞的thick800a是性價比的金屬測厚儀，能夠φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，技術指標
樣品測試譜圖，高清，譜線明顯。：

廠家介紹

X熒光測厚儀生產生產廠家——，新款Thick 8000X熒光測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的款新型鍍層膜厚測試儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。

測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

鍍層測厚儀展廳

關鍵詞：貴金屬鍍層測厚儀金屬測厚儀測厚儀