三箱冷熱沖擊箱的半導體器件如何選擇
閱讀：375發布時間：2015-12-17
一般來說，電負載和機械負載是影響受試設備應力的主要組成部分，因此在試驗方案中必須慎重規定。電負載要考慮阻抗形式，容許誤差和瞬變過程；機械負載要明確是靜態的還是動態的。在規定受試設備的實際功率輸出時，必須同時規定負載條件。冷熱沖擊試驗箱在試驗過程中必須嚴格遵守對負載條件的有關規定。各種電子設備的負載條件是不一樣的：例如，元線電引爆裝置的負載與通信電臺負載不一樣；醫療用*電子部分的負載條件與一般儀器儀表的負載條件不一樣。就拿通信設備來說，有的負載條件是500，有的則是600n，等等。在制定設備試驗方案時，都要視設備的具體要求在試驗方案中作出具體規定。
由于工藝不斷發展、應用日益廣泛、大規模生產的經濟性，使得分立半導體器件的產量很大。根據小功率或大功率、開關時間、極間電容、正向電流等電氣特性，有各種功能器件可供設計人員選擇。此外，根據器件材料及其物理結構，半導體器件亦有若干類。我國將半導體器件分為8 大類（組）。因為半導體器件品種繁多，應用廣泛，對其在工程中的選擇和應用，只能簡述如下。
(1 ）應該采用我國有關半導體器件的國家標準和部頒標準。要特別注意標準中所規定的“額定值”或“zui大額定值”。在任何使用或試驗條件下都不能超過這些值。
(2 ）選擇半導體器件時，要充分考慮到器件在同類應用中的歷史經驗數據或可保證器件牢固、可靠應用的其他工程資料、數據。
(3 ）對功率較大的器件的類型特性要充分了解，以便于正確應用。
(4 ）應根據半導體器件類型特性和在工程中的具體應用適當選擇半導體器件。更多有關各種器件的失效率請查閱有關文獻。
