奧林巴斯相控陣探傷儀探頭
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☆測量范圍：6.35mm~38mm
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☆工作頻率：0°、45°、55°、60°
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☆檢測精度：70°
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☆示值誤差：1
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產(chǎn)品簡介
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我們制造用于不同檢測應用的各種形狀和尺寸的相控陣探頭。這里用示意圖說明了幾種類型的探頭
典型陣列探頭的頻率范圍為1 MHz到17 MHz，晶片的數(shù)量范圍為10到128。Olympus提供各種各樣利用壓電復合材料技術的探頭，可進行各種各樣的檢測。本部分說明Olympus的標準相控陣探頭。這些探頭被分為三種類型：角度聲束探頭、整合楔塊探頭及水浸探頭。
其它類型的探頭是根據(jù)應用需要而特殊設計的探頭。
線性陣列探頭是工業(yè)應用中的相控陣探頭。定義相控陣探頭的一個重要因素是探頭的激活孔徑。
焊縫系列探頭
焊縫檢測探頭帶有外殼及一條從前面或頂部伸出的線纜，以避免與掃查器探頭架產(chǎn)生干擾。這些探頭適用于對焊縫進行的手動和自動檢測。新款A31和A32焊縫系列相控陣探頭和楔塊通過使用更少的設計方案，不僅使焊縫檢測得到簡化和標準化，而且還改進了信噪比。
DMA（雙矩陣）探頭
雙矩陣（DMA）探頭包含兩個與同一個連接器連線的矩陣探頭，具有使用發(fā)送-接收縱波（TRL）聲束進行檢測的能力。這類探頭的頻率為2.0 MHz和4.0 MHz，在檢測帶堆焊層的直管或高衰減性材料時，這些探頭特別有用。
雙晶線性陣列探頭
新型雙晶線性陣列探頭，在腐蝕檢測應用方面，為檢測人員提供了多種優(yōu)于常規(guī)超聲雙晶探頭的優(yōu)勢。這種相控陣解決方案通過諸如更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，及具有更高數(shù)據(jù)點密度的C掃描成像等特性提高生產(chǎn)力。
Immersion Probes
水浸探頭的設計目的是與水楔配合使用，或當被測工件部分或全部浸入水中時在水浸箱中使用。這類探頭屬縱波探頭，但經(jīng)過設置后，使用Rexolite楔塊可以進行折射橫波檢測。
Curved Array Probes
曲面陣列探頭外包不銹鋼防腐鋼殼，在水面下1米以內(nèi)具有防水性能。這類探頭的聲學阻抗與水相配。它們可與所有可調(diào)節(jié)水浸楔塊配合使用，除了可完成復合材料的分層檢測，還可對碳纖維加強聚合物材料（CFRP）的圓角部位進行檢測。
深穿透探頭
深穿透探頭可與各種楔塊配合使用，進行各種角度聲束的檢測應用。這些探頭專用于深穿透應用，如對較厚平板、焊縫、鍛件，及多噪聲或晶粒狀材料的檢測。
小腳印探頭
小腳印探頭可進入到活動空間狹窄的區(qū)域（A00探頭的腳印尺寸為8×8毫米）。
一體化楔塊和符合規(guī)范的探頭
這種組合件將一體化楔塊和符合規(guī)范的探頭放置于同一個外殼中，這樣就使探頭和楔塊的組合件具有非常薄的側(cè)面，可以用于接觸式角度聲束檢測。由于無需在探頭和楔塊接觸面之間使用耦合劑，因此探頭和楔塊之間的耦合狀態(tài)會永遠保持的狀態(tài)。 這些探頭可對應力腐蝕裂紋進行手動檢測，還可用于符合AWS和DGS規(guī)范的應用，此外，這些探頭還可同時使用40°到70°角度對6.35毫米到19毫米的較厚表面進行手動焊縫檢測（對接接頭、角接接頭、T型接頭）。
用于角度聲束探頭的楔塊
用于角度聲束探頭的楔塊有可在鋼中生成0°、45°、55°、60°標準的折射角度的型號，可進行從30°到70°范圍內(nèi)的橫波或縱波角度聲束檢測。這些楔塊帶有不銹鋼螺釘孔，可將楔塊牢固地安裝在探頭上。 可訂購的IHC楔塊可以提高檢測質(zhì)量：灌溉，楔塊架上的安裝孔可用于連接Olympus的掃查器，硬質(zhì)合金條可提高防磨效果。
Universal（用途廣泛）探頭
用途廣泛的各種探頭與楔塊組合在一起的側(cè)面極薄，可以較為容易地進到空間狹小的區(qū)域。這些探頭可以和多種楔塊一起使用，進行各種角度聲束檢測應用。 這些探頭不僅用于對6.35毫米到38毫米的較厚焊縫進行手動或自動檢測，還可對鑄鐵、鍛件、管道、管件、機加工部件及結(jié)構(gòu)部件的裂縫和焊縫缺陷進行檢測。
近壁探頭
近壁探頭的兩端具有較短的盲區(qū)（晶片的中心和最后晶片的中心到與它們最近的探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米）。它們可以地適用于復合材料的通道檢測，并用于復合材料的C掃描檢測（分層、脫膠和多孔性）。
用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊
用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊具有特殊的半徑和角度，其半徑可調(diào)以適用于各種被測工件。這些楔塊的設計目的是用于手動掃查，并配合袖珍輪式編碼器一起使用。
