X熒光光譜儀系列放出的X射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子。當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí)，會(huì)放射該原子所固有能量的X射線－特征X射線。根據(jù)受激后退激過(guò)程中所放出的特征X射線能量各不相同，依此進(jìn)行定性分析；根據(jù)特征X射線強(qiáng)度大小，可進(jìn)行定量分析。

X熒光光譜儀系列特點(diǎn)

探測(cè)器采用半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率優(yōu)于149ev；
真空測(cè)量，大限度的提高測(cè)量元素的檢測(cè)限，有利于鹵素測(cè)量；
自動(dòng)調(diào)整光管功率，對(duì)激發(fā)輕元素和中重元素都有良好的激發(fā)效果；
圓形品倉(cāng)設(shè)計(jì)，適應(yīng)于各種樣品的檢測(cè)，可以測(cè)量固體、液體、粉末；
開(kāi)放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái),可量身定做有害物質(zhì)檢測(cè)和控制方案；
采用XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，全面保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
采用模式識(shí)別及數(shù)據(jù)庫(kù)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)儀器分析智能化； 
配置濾光片裝置大幅提高峰背比； 
校正方式：采用歐盟RoHS 塑膠標(biāo)樣校準(zhǔn)數(shù)據(jù)；
可根據(jù)用戶要求自行定制測(cè)試報(bào)告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求。
可以在ROHS分析軟件上開(kāi)展不銹鋼、合金、貴金屬及全元素分析。 
一體化設(shè)計(jì)，性能穩(wěn)定，運(yùn)行可靠，性價(jià)比高； 
適用于電子產(chǎn)品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）檢測(cè)；