硅半導體電阻率及型號測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和 軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業(yè)的篩選。

硅半導體電阻率及型號測試儀產(chǎn)品特點

1 儀器采用 220V 交流電源供電。

2 同時檢測的電阻率和型號兩項指標。

3 擁有較高的電阻率測試分辨率，小可到0.001 歐姆.厘米。 4 能精確的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的硅半導體材料型號。

5 獨立的 P/N 型重摻告警設置，便于工廠大規(guī)模快速選料。

6 適中的體積和便攜性。

7 簡單的操作，快速的測試。

8 低廉的價格，很高的性價比。

參數(shù)指標

1 供電電源 220V±10% 50Hz AC

2 功耗<1w

3 主機尺寸 155×120×50mm

2 電阻率測試范圍 0.001~50 歐姆.厘米 3 電阻率測試精度 ±5%±2LSB

山東桑澤儀器儀表有限公司自成立以來，致力于為客戶提供完善的解決方案和優(yōu)質(zhì)的售后服務。我公司擁有高素質(zhì)的企業(yè)團隊，具有豐富的儀器和技術服務經(jīng)驗，經(jīng)過不斷的發(fā)展，在實驗儀器，環(huán)境檢測等方面，我公司取得了優(yōu)異的成績。

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