HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀系列
粒子直徑測定：
超寬動態光散射范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項目共同開發的相關器，實現高性能化
在單一納米粒子光學系統中，采用更低雜散光90度檢測光學系統
雙光路系統（90度和173度）適用于更寬更濃度范圍的樣品測量，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等濃度樣品的測定
HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀系列產品特點：
可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量
樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態下取樣和測定
HORIBA自主研發的微量電泳樣品池，可以測定僅100uL的Zeta電位
廣泛應用于膠制粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定
取樣后，僅需按測定開始按鈕即可，操作簡單
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